安洲科技参加2014第三届国际新材料大会

6月6日至9日，2014第三届国际新材料大会在重庆悦来国际会议ZX召开。本届大会由国家外国专家局国外人才信息研究ZX、重庆市人民政府会展办公室、重庆市经济与信息化委员会、重庆市科学技术委员会、重庆市人力资源和社会保障局等单位共同承办。本届大会以“无所不在的智慧之梦”为主题，大会邀请了新材料领域国内外知名专家、知名企业家、学术领军人物、ZS科学家、行业协会负责人出席会议并做精彩报告，海内外业界精英齐聚一堂，共话新材料时代的创新未来。600多位海内外专家学者齐聚重庆，共同打造新材料领域的国际盛会。

北京安洲科技有限公司协同美国SOC公司共同参加了本届大会。美国SOC公司的产品主要包括成像光谱仪和反射率测量仪两大类；其成像光谱仪具有独特的内置扫描设计，大大减轻了整机重量，提高了可操作性。其产品在进入ZG市场的很短时间内便获得了广泛认同。安洲科技作为美国SOC公司ZG区总代理，在与会期间展示了SOC710VP成像光谱仪与410-Solar便携式太阳能反射率仪实物，许多参会专家对SOC710VP便携式可见-近红外成像光谱仪的内置扫描、便携式设计、分辨率精度高、可以满足360°任意角度测量以及软件操作给出了很高的评价。美国SOC公司首席科学家Jafolla博士在大会上作了题为“先进的分析和实验技术表征光学散的表面”的报告，报告引起了专家学者的广泛讨论，获得了大家的一致好评。