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大功率的稳态太阳光模拟光源
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配置应用在科研级的分光及探测系统
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对比测量标准溯源至NIST
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简洁美观的ZL设计
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去除影响测试结果的多余结构，减少系统误差
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优化传统的测试结构，提高测量的不确定度及重复性
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粗大误差自动去除，线性误差、周期误差等的自动校正
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可扩展增加温控、真空吸附等辅助结构
详细介绍
为提高太阳电池的光电转换效率，在制程上需要减少太阳光入射电池后被表面反射所造成的损失，本测试仪针对这一制程上的需求及太阳电池绒面特性，采用D8积分式光学结构，测量材料表面的反射率，对太阳电池制程中的工艺改进，提供有效的分析手段。
产品特点：
技术参数：
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波长范围 |
350-1050nm(可扩展) |
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测试样品尺寸 |
≤156x156mm(可扩展) |
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测试模式 |
Mapping |
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系统重复性 |
1% |
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反射率范围 |
0-100% |
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单点测试时间 |
＜3s |
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校正时间 |
＜15s |
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杂散光 |
1x10-3 |
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取样孔径 |
Φ10mm |
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校准板 |
标准白板（溯源NIM） |
技术文档
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仪企号
北京赛凡光电仪器有限公司
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