光电测试系统

测试系统为自动测试系统，具有测试快速准确、操作简单、可靠性高度特点，能实现了200-250nm范围内光谱响应度、量子效率、归一化探测率、信号电压、噪声电压、响应时间等参数随波长、频率、外加偏压的变化曲

系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或近紫外激光激发半导体材料（如GaN、Zno、CdTe 等）产生荧光；或用可见、红外激光器激发稀土参杂的玻璃或晶体

#13; 本系统由大功能连续光源、消杂散光及多级光谱的精密分光系统、高灵敏度探测器和弱信号处理系统组成。可测试材料的荧光发射谱、激发谱和同步谱。可以广泛用于材料科学领域（各种发光材料、荧光粉、半导体

用于测试各种类型发光体，如激光器、等离子体、白炽灯、荧光灯、LED、红外光源等发射光谱 （原子光谱、连续光谱等）分布情况。

系统可以测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、镀膜等）、和各种材料（溶液、玻璃等）等吸收、透射和反射光谱。 系统型号 系统特点 7-TRASpe

具有强单色谱线的光源照射物质时，在其激发谱线两侧可以得到波数对称分布的一系列卫星谱线----拉曼光谱。拉曼谱线和激发光的波数差与物质分子的振动频率和传动频率相关，利用拉曼光谱不仅可以进行物质的定性分析

系统不仅可以测试紫外像管、光电管的光谱响应，还可以测试分辨率、光谱脉冲计数、光阴极辐照灵敏度、电子增益、等效背景辐照度、辐射增益等参数。专用测试软件，自动测试和计算分析，并可打印输出报表，既适合研究也

CCD 光电性能测量系统又称CCD成像电子学系统光电联试定量测试设备。本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提

系统应用于LED 老炼过程中对光谱性能的监测。系统无人值守全自动运行，实时监测老炼过程中的LED光谱性能状况，并自动记录。 技术指标 工

7-DRSpec探测器光谱响应测试系统采用全反射式光路，具有测试快速准确、操作简单、可靠性高、全自动等特点，能实现宽光谱范围内JD光谱响应度、量子效率、归一化探测率、信号电压、噪声电压、响应时间等参数...

7-PLSpec系列光致发光光谱测试系统可以测量半导体材料或其他发光特性材料（如GaN、ZnO、CdTe或某些复合薄膜等）在激光激发下的光致发光谱，进而分析材料能带等特征，是材料研究和半导体研究比不可...

1、选用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器；2、配合光斩波器和光子计数器，ZD程度提高系统信噪比；3、可进行激发光谱、发射光谱和同步光谱测试；4、自动剔除粗大误差，保证测试结果的准确性；5、模块化设计，...

1、扫描型采用模块化设计，结构灵活，方便升级，光电倍增管和高灵敏度铟镓砷探测器配合光斩波器和锁相放大器，可以ZD程度上提高系统信噪比；2、Mini摄谱型可计算峰值波长、ZX波长、半高宽等参数，适合LE...

1、选用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器或CCD；2、模块化设计，结构灵活。

7-RMSpec拉曼光谱测试系统采用陷波滤光片，不需进行角相位的精密调节，使拉曼光谱测试变得更容易、更方便。同时可以根据客户要求配置光子计数器，提高测试品质。

7-CRD CCD光电性能测量系统 能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界...