四探针测试仪的功能特点有哪些？

       四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备，该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的专用仪器。

       四探针测试仪的功能特点有哪些？

       1.多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试；

       2.采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度；

       3.可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率；

       4.可实现常温、变温、恒温条件的1-V、R-T、R-t等测量功能；

       5.温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度精zhun；

       6.四探针测试仪可自动计算试样的电阻率pV；

       7.10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠；

       8.程控电子升压技术，纹波低、TVS防护系统，保证仪器性；

       9.99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针；

       10.huace pro控制分析软件；

       11.整体为桌面型设计，采用红外灯加热，无保温炉膛结构，满足实验室无灰尘排放的要求；

       12.内置工控机、触摸屏，可以利用工控机设定加热曲线，并实现和其他测试设备的集成控制；

       13.定点控温模式下，可以将样品10s内加热到1000摄氏度；控温加热下，可以5度/s速率下线性加热到1000摄氏度；

       14.在1000度下可以连续工作时间不低于1小时；

       15.采用铂热电偶直接测定样品附近温度；

       16.样品可以工作在大气、真空、气氛环境下加热；

       17.配备真空泵，水冷设备，配备*温、缺水、过流等报警保护装置；

       18.温度均匀区：60mm*100mm。