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ilmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说，当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率

ilmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在

ilmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪有价格优势的先进薄膜测量系统以 F20 平台为基础所发展的 F10-HC 薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上 F10-

ilmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F4

ilmetrics F3 薄膜厚度测量仪经济适用的反射率测试系统F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的，并且可选配至厚度和指数测试功能，基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准，大

ilmetrics F3-CS 薄膜厚度测量仪Filmetrics设计F3-CS，主要针对于微小视野及微小样品测量设计。从产线的操作人员到技术人员都可以在短时间内测试比如聚对二甲苯和真空镀膜类膜层。我

ilmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置， F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可

ilmetrics F20 光学膜厚测量仪选择 Filmetrics 的优势桌面型薄膜厚度测量的全球24 小时电话， Email，在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件

ilmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在

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ilmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球24 小时电话、 Emai

国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k， 采用 r-θ 极坐标

厚测量测试仪 光学膜厚测量仪Filmetrics F64-C晶片生产中自动化测量薄膜厚度分布图案系统依靠 F64 先进的光谱反射系统，可以很简单快速地获得产品薄膜厚度及 n 和 k 值的分布图。利用图

面式膜厚测量仪 Filmetrics F70测量厚度上限可达 15 毫米可透光材料对可透光材料来说，色差共焦测量（ CTM）是一种非接触式的测量方式，最多可同时测量两层。这种测量方式，较不受待测样品表

ilmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的，现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics 可以快速建立配方，并且