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宽禁带半导体及静态测试方案
发布:西安安泰测试设备有限公司浏览次数:8201 / 什么是宽禁带半导体
第三代半导体(本文以 SiC 和 GaN 为主)又称宽禁带半导体,禁带宽度在 2.2eV 以上,具有高击穿电场、高饱和电子速度、高热导率、高电子密度、高迁移率等特点,逐步受到重视。SiC 与 GaN 相比较,前者相对 GaN 发展更早一些,技术成熟度也更高一些;两者有一个很大的区别是热导率x,这使得在高功率应用中,SiC 占据统治地位;同时由于 GaN具有更高的电子迁移率,因而能够比 SiC 或 Si 具有更高的开关速度,在高频率应用领域,GaN 具备优势。
02 / 宽禁带半导体静态测试
静态测试
静态:也叫稳态或者DC状态,施加激励(电压/电流)到稳定状态后再进行测试,常作为器件的“体检”!是特性测试中的基本测试;
特点:测试稳定,精度高,测试慢;
静态参数主要是指本身固有的,与其工作条件无关的相关参数。静态参数测试又叫稳态或者DC(直流)状态测试,施加激励(电压/电流)到稳定状态后再进行的测试。主要包括:栅极开启电压、栅极击穿电压、源极漏级间耐压、源极漏级间漏电流、寄生电容(输入电容、转移电容、输出电容),以及以上参数的相关特性曲线的测试。
测试设备:
源和测量单元一体,也就是SMU设备;
静态测试
静态:也叫稳态或者DC状态,施加激励(电压/电流)到稳定状态后再进行测试,常作为器件的“体检”!是特性测试中的基本测试;
特点:测试稳定,精度高,测试慢;
静态参数主要是指本身固有的,与其工作条件无关的相关参数。静态参数测试又叫稳态或者DC(直流)状态测试,施加激励(电压/电流)到稳定状态后再进行的测试。主要包括:栅极开启电压、栅极击穿电压、源极漏级间耐压、源极漏级间漏电流、寄生电容(输入电容、转移电容、输出电容),以及以上参数的相关特性曲线的测试。
2450 型是 Keithley 的新一代源测量单元 (SMU) 仪器,可轻松执行欧姆定律(电流、电压和电阻)测试。其创新的图形用户界面 (GUI) 和先进的电容式触摸屏技术让使用变得非常直观,并最大程度地减少学习曲线,从而使工程师和科学家能够更快地学习、更智能地工作且更轻松地进行发明创造。
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作为泰克吉时利产品的长期合作伙伴,专业提供设备选型和测试方案的提供,并获得客户的高度认可,如您想了解吉时利源表更多产品应用,欢迎访问 www..com.cn。
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