详细介绍
DS AE1-RD1红外发射率测量仪
美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门
针对测量物体的辐射率设计的,具有如下优点:
重复性: ± 0.01
操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样
品,也不需要测量温度。
快速测量:预热约30分钟,每1.5分钟测量一次
发射率。
***: 相较于一些用比较法测量发射率的仪
器便宜很多
AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,
测量仪仅对辐射热传输响应,并且输出电压
和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表
RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮
来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当
AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射
率。
把该仪器放在高发射率标准体(近似黑体)上,
设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会
根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目
标的发射率。
AE1测量样品最小直径为2.25英寸(5.7cm)。
可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样
品最小直径为1.0英寸(2.54cm),可以为圆柱
形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定
制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量
平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电
垂询价格!
发射率通过两个步骤获取:
1.把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来
表示发射率;
2.把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的
发射率。
产品优势
美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的,满足《ASTMC1371》《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等规程要求。
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