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第二代场发射电镜的分辨率提升至优于 1.5nm，广泛用于半导体、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。

飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 进一步拓展了紧凑型台式电镜的性能极限，同时具备飞纳电镜系列简单易用、快速成像的两大特点。此外，它配备了超大的样品腔室，可以观察分析zuida样品尺寸为 100 m...

飞纳台式扫描电镜能谱一体机 Phenom ProX —— 智能、GX、能谱电镜一体化 放大倍数：350,000× 分辨率：优于 6nm@10kV...

国产型号飞纳电镜由赛默飞世尔（广州）生物科技有限公司生产，这里是集研发与制造于一体的专业基地。作为电子显微镜国产化的主要生产载体

全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学

Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜，配备了 STEM 样品杯，从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜，利用 FE...

• 先进的离子枪设计和自动化功能 • 新型用户友好操作软件:为用户提供智能辅助 • 更精确的针阀:允许对气流进行精细调整 • 高精度可调性:用于精细调节操作 • 更长寿命高真空传感...

ParticleX TC 全自动汽车清洁度分析系统 取代传统颗粒物清洁度检测方法，允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分，从而判断出污染源。

01自动夹杂物识别 02自动高清图像采集 03 自动能谱成分分析 04自动夹杂物分类

ParticleX Battery 全自动锂电清洁度分析系统可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产...

VSP-G1 纳米粒子发生器是一台桌面式仪器，用于生成尺寸范围为 1 – 20 nm 的纯金属、金属氧化物或合金纳米气溶胶材料。纳米颗粒的生产完全在气相中进行，因此无需使用表面活性剂或前驱体。用于纳米...

离子束研磨技术是一种非接触式、高精度表面加工技术，它利用高能或低能离子束在材料表面进行破坏和移除，使表面的原子和分子发生微小的位移和变形，从而实现对表面的精细加工。

Gentle Mill 离子精修仪产品专为Z终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 ...

Unimill 既可以使用全球独家的超高能离子枪进行快速研磨，也可以使用专用的低能离子枪进行Z终抛光和精修处理。

01. X 射线源高达 65 kV，通用性强：适用于聚合物、地质、制药、骨骼和牙科应用 02. 体积小，重量轻：设计紧凑，搬运轻松，无需特殊安装环境，可放置在办公桌上使用，兼容性连接端口 ...

01. 快速扫描，图像质量出众：7M 平板探测器，可快速扫描样品，同时获得极佳的图像质量 02. 高分辨，应用范围广泛: X 射线源电压可高达 100 kV, 适用于地质、复合材料、骨骼、牙科、...