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多功能
C+L、O波段（可选）
可扩展扫频光源
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
光学测量分析二次开发
可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量；
可升级扫描范围；
可升级高功率版本（2mW/5mW）。
详细介绍
产品特点
主要应用
参数
| 主要参数 | ||
| 损耗（IL） | ||
| 测量长度 1 | 100 | m |
| 波段 2 | 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 | nm |
| 波长分辨率 | 1.6 | pm |
| 波长精度 | ±1.0 | pm |
| 动态范围 | 60 | dB |
| 插损精度 | ±0.1 | dB |
| 分辨率 | ±0.05 | dB |
| 扫频光源 | ||
| 功率 3 | 1 | mW |
| 波长 2 | 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 | nm |
| 波长精度 | 5 | pm |
| 扫描速度 | 10 ~ 100 | nm/s |
| 边摸抑制比 | 60 | dBc |
| 消光比 | 15 | dB |
| 硬件 | ||
| 主机功率 | 60 | W |
| 通讯接口 | USB | - |
| 光纤接口 | FC/APC | - |
| 尺寸 | D 330 * W350 * H160 | mm |
| 重量 | 7.5 | kg |
| 储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
| 工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
| 工作湿度 | 10 ~ 90 | %RH |
备注：
产品优势
SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
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