-
-
扫频光谱分析系统 SSA
- 品牌:昊衡科技
- 型号: SSA
- 产地:武汉
- 供应商报价: 面议
- 武汉东隆科技有限公司 更新时间:2024-04-19 11:07:25
-
企业性质授权代理商
入驻年限第5年
营业执照已审核
- 同类产品光通信测量系统(8件)
- 标签: 扫频光谱分析系统 东隆科技独家代理
联系方式:马小姐027-87807123
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
产品特点
多功能
C+L、O波段(可选)
可扩展扫频光源
主要应用
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
光学测量分析二次开发
参数
主要参数 损耗(IL) 测量长度 1 100 m 波段 2 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 nm 波长分辨率 1.6 pm 波长精度 ±1.0 pm 动态范围 60 dB 插损精度 ±0.1 dB 分辨率 ±0.05 dB 扫频光源 功率 3 1 mW 波长 2 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 nm 波长精度 5 pm 扫描速度 10 ~ 100 nm/s 边摸抑制比 60 dBc 消光比 15 dB 硬件 主机功率 60 W 通讯接口 USB - 光纤接口 FC/APC - 尺寸 D 330 * W350 * H160 mm 重量 7.5 kg 储藏温度 0 ~ 50 ℃ 工作温度 10 ~ 40 ℃ 工作湿度 10 ~ 90 %RH 备注:
可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量;
可升级扫描范围;
可升级高功率版本(2mW/5mW)。
- 产品优势
- SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
- 相关产品