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扫频光谱分析系统 SSA

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详细介绍

产品特点

  • 多功能

  • C+L、O波段(可选)

  • 可扩展扫频光源


主要应用

  • 平面波导器件

  • 硅光器件

  • 光纤器件

  • 波长可调器件、放大器、滤波器

  • 光学测量分析二次开发


参数

主要参数
损耗(IL)

测量长度 1100m
波段 21525 ~ 1565;1290 ~ 1330nm
波长分辨率1.6pm
波长精度±1.0pm
动态范围60dB
插损精度±0.1dB
分辨率±0.05dB
扫频光源

功率 31mW
波长 21525 ~ 1565;1290 ~ 1330nm
波长精度5pm
扫描速度10 ~ 100nm/s
边摸抑制比60dBc
消光比15dB
硬件

主机功率60W
通讯接口USB-
光纤接口FC/APC-
尺寸D 330 * W350 * H160mm
重量7.5kg
储藏温度0 ~ 50
工作温度10 ~ 40
工作湿度10 ~ 90%RH

备注:

  1. 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量;

  2. 可升级扫描范围;

  3. 可升级高功率版本(2mW/5mW)。

产品优势
SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
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