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扫频光谱分析系统SSA

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产品特点

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。

详细介绍


产品特点
  • 多功能

  • C+L、O波段(可选)

  • 可扩展扫频光源

  • 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量

主要应用
  • 平面波导器件

  • 硅光器件

  • 光纤器件

  • 波长可调器件、放大器、滤波器

  • 光学测量分析二次开发

参数

主要参数

损耗(IL)



测量长度

200

m

波段 1

1525 ~ 1565;1290 ~ 1330

nm

波长分辨率

1.6

pm

波长精度

±1.0

pm

动态范围

60

dB

插损精度

±0.1

dB

分辨率

±0.05

dB

扫频光源



功率 3

1

mW

波长 1

1525 ~ 1565;1290 ~ 1330

nm

波长精度

5

pm

扫描速度

10 ~ 100

nm/s

边摸抑制比

60

dBc

消光比

15

dB

硬件



主机功率

60

W

通讯接口

USB

-

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

W 345 * D 390   * H 165

mm

重量

7.5

kg

储藏温度

0 ~ 50

工作温度

10 ~ 40

工作湿度

10 ~ 90

%RH

备注:

  1. 可升级扫描范围;

  2. 可升级动态范围到80dB;

  3. 可升级高功率版本(2mW/5mW)。


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