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OFDR光矢量分析系统 OCI-V

品牌：东隆科技
型号： OCI-V
产地：武汉
供应商报价：面议

武汉东隆科技有限公司更新时间：2024-04-19 11:07:25

企业性质授权代理商

入驻年限第5年

营业执照已审核

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标签：光矢量分析系统东隆科技独家代理光矢量分析仪 OVA500

联系方式：马小姐027-87807123

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详细介绍

产品特点

自校准
测量长度：200m
波段：C+L、O波段（可选）
1秒内测量多种光学参数

主要应用

平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数：

偏振相关损耗PDL
偏振模色散PMD
插损IL
群延时GD
色散CD
琼斯矩阵参数
光学相位

参数

主要参数
测量长度	200	m
波段	C+L 波段：1525~1625；O 波段：1268~1340	nm
波长分辨率	1.6	pm
波长精度	±1.0	pm
损耗（IL）
动态范围	60	dB
插损精度	±0.1	dB
分辨率	±0.05	dB
群延时（GD)
量程	6	ns
精度	±0.2	ps
损耗范围	45	dB
色散（CD）
精度	±10	ps/nm
偏振相关损耗（PDL)
动态范围	40	dB
精度	±0.05	dB
偏振模色散（PMD）
量程	6	ns
精度	±0.1	ps
损耗范围	40	dB
硬件
主机功率	50	W
通讯接口	USB	-
光纤接口	FC/APC	-
尺寸	D 450 * W 450 * H 166	mm
重量	18.5	kg
储藏温度	0 ~ 50	℃
工作温度	10 ~ 40	℃
工作湿度	10 ~ 90	%RH

产品优势

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。

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