LGA50光学器件分析系统具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。
产品特点
空间分辨率：20μm
测量长度：50m
中心波长：1550nm
插损、回损分析
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数
类别 | 指标 | 单位 | |
测量长度1 | 50 | m | |
空间分辨率2 | 20 | μm | |
波长扫描范围 | 40 | nm | |
中心波长 | 1550 | nm | |
波长精度 | 1.0 | pm | |
回损动态范围 | 65 | dB | |
回损测量范围 | -130~0 | dB | |
回损灵敏度 | -130 | dB | |
回损测量精度 | ±0.5 | dB | |
回损分辨率 | ±0.05 | dB | |
插损动态范围3 | 13 | dB | |
插损测量精度 | ±0.5 | dB | |
输入电压 | AC 220/110V; DC 12V | - | |
主机功率 | 60 | W | |
通讯接口 | USB | - | |
光纤接口 | FC/APC | - | |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm | |
重量 | 7.5 | kg | |
储藏温度 | 0~50 | ℃ | |
工作温度 | 10~40 | ℃ | |
工作湿度 | 10~90 | %RH | |
扩展功能4 | |||
采集频率 | 5Hz@(20m,42nm) | 15Hz@(20m,10nm) | - |
备注：
LGA50测量长度为50m ，后续支持升级至100m；
空间分辨率为20μm，后续支持升级至10μm；
插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的最大来回损耗；
扩展功能为升级模块，需要单独购买。
报价：面议
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IMA™高光谱显微系统提供同样高的光谱和空间分辨率。将这个模块化系统配置为快速扫描VIS、NIR和/或SWIR光谱，同时绘制光致发光、电致发光、荧光、反射率和/或透射率的组合。每个IMA™都配备了高通量的全局成像滤光片；这使它能够比依赖扫描光谱的高光谱系统更快地测量百万像素超立方体。
Hermes是一款基于64×32二维智能像素阵列的单光子计数相机。每个像素包含一个单光子雪崩二极管（SPAD）探测器、一个模拟前端电路和一套数字处理电子器件。这种架构实现了单光子灵敏度、高抗电子噪声能力以及快速读出速度。该成像器最高可实现约每秒96,000帧的帧率，且帧间死区时间几乎可以忽略不计。
Argo Panoptes 系列SPAD探测器阵列（以下简称Argo）基于二维阵列结构，用户可选择7×7或8×8的SPAD像素配置。每个像素均配备独立的淬灭电路，其输出信号被直接引出，并通过符合LVDS电气标准的高密度、高速连接器对外提供。Argo系列相机支持完全并行操作，从而彻底避免了传统帧式相机所固有的典型限制。
PF32由一枚具备最佳定时分辨率的单光子敏感成像传感器构成，每秒可对多达五亿个光子进行时间戳标记，吞吐量业界领先。该器件仅需 5V 供电，通过 USB-C 接口连接主机 PC，并配备跨平台驱动，可轻松集成至您的分析软件。
PF 32-Lite是一款低成本、具备最佳级定时分辨率的单光子敏感相机。该器件仅需5 V供电，通过USB-C接口连接主机PC，并配备跨平台驱动，可轻松集成至您的分析软件。
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GEMINI-X干涉仪是GEMINI干涉仪的高通光孔径升级版，专为显微镜下的高光谱成像设计。凭借20mm通光孔径，GEMINI X可与大面积二维传感器无缝耦合，兼容任何显微镜摄像头接口。支持多种成像模式，包括：透射成像、反射成像以及光致发光与电致发光（PL&EL）高光谱成像。 GEMINI-X同时完整继承了初代GEMINI的全部功能。可搭配单像素探测器与TCSPC板卡进行时频分辨测量，并适用于泵探测器、拉曼光谱及量子应用领域。
SFM 2D是一款基于成熟散射测量原理的高效测量工具，能在不到1分钟内完成整个激光扫描场的全面分析。它通过特制的二维测量结构阵列，近乎同步地采集全场数据，不仅可精确测定光束位置，还能生成多种激光参数热力图，直观呈现光斑形态、扫描偏差、能量分布及时序误差等关键信息。
营业执照已审核
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