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北京昊然伟业光电科技有限公司
主营产品:其它激光仪器,位移台,测距仪/激光测距仪,激光波长计,激光功率计
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光学测量

 
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小型傅里叶红外光谱仪(中红外光谱仪)
  • 品牌: 瑞士Arcoptix
  • 型号:06
  • 产地:瑞士
  • FT-IR“Rocket”小型傅里叶红外光谱仪(中红外光谱仪)是一种坚固、小型、轻型和高性能的FT-IR光谱仪。FT-IR“Rocket”可用于光纤连接型或自由空间型。

近红外傅里叶红外光谱仪NIR spectrometer
  • 品牌: 瑞士Arcoptix
  • 型号:NIR spectrometer
  • 产地:瑞士
  • 波长范围: 0.9-2.6um 分辨率: 8cm-1(相当于to <1nm@1um ; <5nm@2.5um) 高灵敏度,稳定性好 结构紧凑,操作简单 光纤输入,高性价比

光源辐射度测量仪 Light Source Radiation Measurement
  • 品牌: 瑞士Arcoptix
  • 型号:Light Source Radiation Measure
  • 产地:瑞士
  • SpectroSolar系列产品是专门用于测量光源,比如太阳光模拟器发光光谱能量分布。应用于测量连续或脉冲光源光谱及太阳光模拟器的校验。

气体分析仪 Gas Analyzer
  • 品牌: 瑞士Arcoptix
  • 型号:Gas Analyzer
  • 产地:瑞士
  • 强大的气体分析模块,基于我们强大的4波段分辨率的傅里叶变换红外光谱和一个小型的5米光路,小体积(0.2升)多次加热单元。据我们所知GASEX是超紧凑的针对应用程序进行优化的气体分析仪模块。

CRD高反射率测量仪
CRD高反射率测量仪
价格:面议
  • 品牌: 德国Fraunhofer
  • 型号:CRD
  • 产地:德国
  • 针对高反射率(R>99.7%)的光学样品,德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)反射率测量测量系统, 它通过对指数型...

美国Lumetrics 非接触式测厚仪
  • 品牌: LUMETRICS
  • 型号:非接触式测厚仪
  • 产地:美国
  • Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度测量系统采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。

角分辨散射测量系统ALBATROSS-TT散射仪
  • 品牌: 德国Fraunhofer
  • 型号:ALBATROSS
  • 产地:德国
  • ALBATROSS-TT是由德国Fraunhofer IOF 研发的角分辨式散射测试系统,具有高动态范围、高灵敏度、低噪声等特点。

角分辨散射测量系统-Horos简易型散射仪
  • 品牌: 德国Fraunhofer
  • 型号:Horos
  • 产地:德国
  • Horos (hight sensitive optical roughness sensor) 是一种小型的,便于移动的光学传感器。它以散射测量为基础,用于测量从微米级到亚纳米级的表面粗糙程度。被测...

干涉仪
干涉仪
价格:面议
  • 品牌: ZG Optique
  • 型号:04
  • 产地:瑞士
  • 1.非接触式技术检测抛光平面和球面的精度(功率、不规则度) ⒉.测试表面半径 3.检测目标传输波前畸变(TWD)

自动测角仪
自动测角仪
价格:面议
  • 品牌: ZG Optique
  • 型号:03
  • 产地:瑞士
  • ZG Optique SA成立于1999,一直致力于开发和生产高精度的光电仪器和测量系统, 用于计量、运输、光学工业和科研。该公司的团队由在光学测量和惯性系统开发领域科学家和经验丰富的专家组成。

美国Hinds 弱吸收仪-LID光热偏转技术弱吸收仪
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:LID
  • 产地:美国
  • 弱吸收的意义在高功率激光系统中,光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生—系列问题: 1、如下图所示的焦距发生变化 ⒉、波前畸变 3、退偏 4、膜层吸收是影响薄膜损伤阈值...

 弱吸收仪 - 共光路干涉吸收仪
  • 品牌: OPCROWN
  • 型号:02
  • 产地:门头沟区
  • PCI弱吸收仪特点: 精度高: 1 ppm; —次测量可以区分体、面吸收; 扫描速度快(几分钟); 对样品规格要求不高; 操作方便、简单。

美国Hinds 圆二色性测量系统
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:01
  • 产地:美国
  • EKKOTM圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。 EKKOTM圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选,也不需要在分析过程中清洗...

美国Hinds 各向异性测量系统 2-MGEM 椭圆计
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:2-MGEM
  • 产地:美国
  • Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是—种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO核燃料热解碳层的光学各向异性(OPTAF)。该系统是根绝Dr.G...

美国Hinds Strokes 偏振计
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:Strokes
  • 产地:美国
  • 偏振测量长期以来一直是Hinds仪器的专业技术,在新的交钥匙双PEM研究中, STOKES偏振计系统是为测量光的斯托克斯参量提供高灵敏度的下一步,该系统在光学元件表征、光学系统光束输出特性、天文学、...

美国Hinds 穆勒矩阵测量系统 Mueller Polarimeter
  • 品牌: 美国Hinds
  • 型号:Mueller Polarimeter
  • 产地:美国
  • 使用Hinds仪器公司PEM技术,该系统为一个完整的Mueller偏振计提供了高水平的灵敏度。关键词:150XT,穆勒椭偏仪,Hinds.Hinds Instruments,穆勒矩阵测量系统,穆勒矩阵...

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