霍尔电阻迁移率

LEIModel1605，是非接触迁移率测试系统，可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样，消除了样品制备引起的迁移率变化。

LEI88 是针对科研类客户开发的产品，具备非接触快速测试方块电阻和电导率功能。

非接触Hal和方块电阳测试系统，可对GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各种半导体材料设计的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件结构进行测试。

SRP 测试系统，采用扩展电阻率技术(SRP)，对载流子浓度和电阻率随深度的变化做快速测试。