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美国KLA/KLA

 
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KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
价格:¥ 750000
  • 品牌: 美国KLA
  • 型号: Zeta™-20
  • 产地:美国
  • Zeta™-20光学轮廓仪Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面

美国KLA

KLA-Tencor成立于1975年,位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯,致力于半导体(芯片)设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等,产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。

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