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独特的镜筒内 BSE 探测器设计可以根据能量和角度不同选择信号
镜筒内 BSE 探测器所安装的特殊位置使得它可以同时采集不同 “出射”角度的背散射电子（BSE）。 Axial BSE 探测器收集近轴背散射电子信号，而 Multidetector（BSE）则收集中角背散射电子信号， 这两个信号是明显不同的。 通过 Axial BSE 探测器我们可以抑制不希望看到的由于样品的表面形貌引起的干扰，从而观察到最佳的材料成分衬度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射电子，获得既有成分衬度又有形貌衬度的图像，但更凸显表面形貌的特点。 Multidetector 配有一个能量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的能量过滤，以便增强背散射电子的衬度。电子束敏感样品和非导电样品的理想选择
镜筒和探测器系统的一体设计，无需施加样品减速偏压，即可实现电子束 50 eV 的低着陆能量，避免了样品产生损伤和荷电效应，并实现出色的成像性能，是观察各种不导电样品的理想选择。电子束的快速设置 – 实现最佳的成像和分析条件
EquiPower™ 透镜技术可实现高效的散热并保证电子镜筒的稳定性。同时结合使用了实时电子束实时优化技术，使 TESCAN CLARA 能够在全部束流范围下获得优异的高分辨率图像和（EDS / EBSD）分析能力。
TESCAN 超高分辨场发射扫描电子显微镜CLARA 核心参数
| 电子枪: | 场发射 |
详细介绍
主要特点
主要应用
材料科学
生命科学
地球科学
产品优势
CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜，是基于成功的S8000 基础上进一步研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于对各种不同类型材料的分析和表征。
CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（最小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。
TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率，因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察，同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ，不仅在低电压下拥有极佳的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。
新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心，材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观，模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制，可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像，并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能。
CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（最小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。
TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率，因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察，同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ，不仅在低电压下拥有极佳的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。
新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心，材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观，模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制，可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像，并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能。
