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TESCAN 超高分辨场发射扫描电子显微镜CLARA

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详细介绍

主要特点

  • 独特的镜筒内 BSE 探测器设计可以根据能量和角度不同选择信号
    镜筒内 BSE 探测器所安装的特殊位置使得它可以同时采集不同 “出射”角度的背散射电子(BSE)。 Axial BSE 探测器收集近轴背散射电子信号,而 Multidetector(BSE)则收集中角背散射电子信号, 这两个信号是明显不同的。 通过 Axial BSE 探测器我们可以抑制不希望看到的由于样品的表面形貌引起的干扰,从而观察到最佳的材料成分衬度。 相比之下,Multidetector(BSE)收集中角背散射电子,获得既有成分衬度又有形貌衬度的图像,但更凸显表面形貌的特点。 Multidetector 配有一个能量过滤器,可以实现二次电子信号和背散射电子信号的能量过滤,以便增强背散射电子的衬度。

  • 电子束敏感样品和非导电样品的理想选择
    镜筒和探测器系统的一体设计,无需施加样品减速偏压,即可实现电子束 50 eV 的低着陆能量,避免了样品产生损伤和荷电效应,并实现出色的成像性能,是观察各种不导电样品的理想选择。

  • 电子束的快速设置 – 实现最佳的成像和分析条件
    EquiPower™ 透镜技术可实现高效的散热并保证电子镜筒的稳定性。同时结合使用了实时电子束实时优化技术,使 TESCAN CLARA 能够在全部束流范围下获得优异的高分辨率图像和(EDS / EBSD)分析能力。

    主要应用

    材料科学

    生命科学

    地球科学


    产品优势
    CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜,是基于成功的S8000 基础上进一步研发的,其设计更能满足材料科学的需求,适用于对各种不同类型材料的分析和表征。

    CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别,能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成(最小放大倍数可至2倍),从而快速定位感兴趣的区域。

    TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率,因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察,同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ,不仅在低电压下拥有极佳的分辨率,而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度,来探索样品可能包含的大量信息,因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。

    新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心,材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观,模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制,可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像,并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能。
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