三维白光干涉仪

在精密制造过程中，对零件表面质量进行监控是保证产品性能的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够对加工表面进行三维形貌测量，为制造过程的质量控制提供数据支持。

材料表面特性影响材料的多种性能。对表面形貌进行观察和分析，是材料研究的一个方面。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪能够获取材料表面的三维形貌信息，为表面结构与性能关系的研究提供工具。该设备在材...

光学元件的面形精度影响光学系统的成像质量。对面形误差进行检测，是光学制造中的重要环节。

半导体制造对工艺控制有严格要求，表面测量是工艺监控的重要环节。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪在半导体工艺中可用于测量晶圆表面的薄膜厚度、图形结构、缺陷等特征，为工艺开发和质量管理提供测量数...

表面粗糙度是评价表面质量的重要参数。对粗糙度进行量化分析，有助于理解表面特性与功能性能的关系。

在表面测量中，非接触式方法因其不损伤样品的特性而受到关注。ZYGO Nexview NX2采用光学干涉原理，实现了对样品表面的非接触三维测量。

对材料表面三维形貌的观察，有助于了解表面特征与性能之间的关系。ZYGO Nexview NX2白光干涉仪通过光学方法，能够获取样品表面的三维高度信息，为表面形貌分析提供了观察工具。该设备在材料研究、质...

白光干涉技术是基于光波干涉原理的表面测量方法。ZYGO Nexview NX2设备将这一技术应用于实际测量，为观察样品表面微观形貌提供了工具。

表面形貌测量是了解材料特性的一个方面。在众多测量技术中，光学方法因其非接触特性而受到关注。

通过紧凑型设计和多功能性的统一结合，西班牙Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦测量头S mart2是市面上*的可集成的区域共聚焦传感器,S mart 2 的设计非常易于集成，包括计算核心在内的所

西班牙Sensofar大视野3D光学轮廓仪S wide是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功