半导体检查显微镜

用于12寸精密的观察和复检系统 Leica DM12000 M 徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提...

徕卡 DM8000M半导体检查显微镜产品特点： 徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计，如理想的宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力，同时也增加了观察...

DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷，提高您的收益率。充分利用0.7X的宏观物镜，视场宽敞 30%。更更多细节尽收眼底，工作更高效。