美国磁通在无损检测领域拥有超过80年的历史。20世纪20年代初，工业领域迫切需要一种价格低廉而可靠的检测方式来确定大批量生产的机械和结构零件的表面裂纹和缺陷。1929年，美国麻省理工的教授、研究工程师A.V. de Forest与化学家、商学硕士F. B. Doane共同创立了一家专门进行无损探伤的公司，并于1934年正式命名为Magnaflux。1930年Doane先生在位于匹兹堡的家中地下室研制出了世界首台磁粉探伤机原型机，1933年将其商业化由此诞生了第一台商用磁探机Magnaflux M-150。1936年，美国陆军和海军的航空兵明确了在其制造维修工厂采用美国磁通的标准。以此为基础，发展了美国的磁粉探伤和渗透探伤的标准体系。1941年，美国磁通获得荧光磁粉的专利技术，创造了一种全新的无损探伤方法——荧光磁粉探伤。