售后服务

全面提供功能材料电学（压电，铁电，介电, 热电）全项目服务

高温介电温谱（温度范围：室温~1000℃）

高低温介电温谱（温度范围：-160~500℃）

宽温介电频谱（室温～500℃，频率范围0.1~10MHz）

电滞回线测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）

动态电滞回线、初始电滞回线、电滞 IV 曲线、疲劳、脉冲（PUND）、FORC测试、漏电流、C-V 曲线、损耗曲线，变温测试功能。

高温复阻抗测试：

室温到900度，频率范围1Hz-10MHz

应变曲线测试

室温d33

原位变温d33

电卡测试

电压1200V，温度-50℃~90℃

脉冲充放电测试

直流耐击穿测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）

压电陶瓷及薄膜，粉末全项极化

热释电测试

透射电镜(TEM)

AFM、PFM测试（变温）

Raman测试（变温）

XRD（变温）XRD精修

超低温介电测量系统:

温谱和频谱,介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：10K ~ 390K

超高温介电测量系统：

介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：室温 ~ 900℃

变温压电系数d33测量系统：

测量温度区间：-100℃~室温或室温~500℃

变温电致伸缩测量系统：

测量温度区间：-100℃~室温或室温~200℃

变温铁电（P-E loop）测量系统：

此系统可以用于测量电卡效应和变温储能性能，测量温度区间-120℃~200℃）

铁电变温电镜服务：

常规实验：高分辨、明暗场、衍射斑

升级特殊试验：

CBED（纳米铁电微畴结构）

变温电镜拍摄（-150℃~500℃）

原位电场电镜拍摄（Tip: 需要提前半年预约）

铁电材料的机械性能测试：

应力-应变曲线 （压缩模式, 可变温测量）

储能模量DMA测试

温度：-150℃ ~400℃，频率：0.2Hz~ 20 Hz

铁电/铁磁异质结（多铁材料）直接法测量动态磁电耦合系数(α)

金相显微镜观察薄膜击穿位置分布

EPR测试

XPS测试

吸波测试

电磁屏蔽测试

Kpfm测试

力学性能测试

开尔文电阻测试

光谱仪测试

傅里叶红外测试

PL光谱测试

紫外–可见光和可见光分光光度法

材料加工服务：

磨薄（可至0.07mm）、滚圆、抛光、倒角等

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高温介电温谱（温度范围：室温~1000℃）

高低温介电温谱（温度范围：-160~500℃）

宽温介电频谱（室温～500℃，频率范围0.1~10MHz）

电滞回线测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）

动态电滞回线、初始电滞回线、电滞 IV 曲线、疲劳、脉冲（PUND）、FORC测试、漏电流、C-V 曲线、损耗曲线，变温测试功能。

高温复阻抗测试：

室温到900度，频率范围1Hz-10MHz

应变曲线测试

室温d33

原位变温d33

电卡测试

电压1200V，温度-50℃~90℃

脉冲充放电测试

直流耐击穿测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）

压电陶瓷及薄膜，粉末全项极化

热释电测试

透射电镜(TEM)

AFM、PFM测试（变温）

Raman测试（变温）

XRD（变温）XRD精修

超低温介电测量系统:

温谱和频谱,介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：10K ~ 390K

超高温介电测量系统：

介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：室温 ~ 900℃

变温压电系数d33测量系统：

测量温度区间：-100℃~室温或室温~500℃

变温电致伸缩测量系统：

测量温度区间：-100℃~室温或室温~200℃

变温铁电（P-E loop）测量系统：

此系统可以用于测量电卡效应和变温储能性能，测量温度区间-120℃~200℃）

铁电变温电镜服务：

常规实验：高分辨、明暗场、衍射斑

升级特殊试验：

CBED（纳米铁电微畴结构）

变温电镜拍摄（-150℃~500℃）

原位电场电镜拍摄（Tip: 需要提前半年预约）

铁电材料的机械性能测试：

应力-应变曲线 （压缩模式, 可变温测量）

储能模量DMA测试

温度：-150℃ ~400℃，频率：0.2Hz~ 20 Hz

铁电/铁磁异质结（多铁材料）直接法测量动态磁电耦合系数(α)

金相显微镜观察薄膜击穿位置分布

EPR测试

XPS测试

吸波测试

电磁屏蔽测试

Kpfm测试

力学性能测试

开尔文电阻测试

光谱仪测试

傅里叶红外测试

PL光谱测试

紫外–可见光和可见光分光光度法

材料加工服务：

磨薄（可至0.07mm）、滚圆、抛光、倒角等