布鲁克公司精彩亮相ChinaNano2015会议

9月3日，ChinaNano 2015在北京国际会议ZX隆重开幕。作为纳米表面技术的重大盛典，布鲁克公司成功赞助了此次会议。

9月4日上午11时，ZG科学院白春礼院长参观了展台，并**个来到布鲁克展台指导工作，随行的还有北京大学刘忠范院士、国家纳米ZX王琛主任等。布鲁克公司亚太区应用科学家孙万新博士、ZG区应用科学家仇登利博士分别向白春礼院长介绍了扫描速度Z快的原子力显微镜Dimension Fastscan的技术创新点和扫描工作状态。

9月5日上午，江雷院士亲临布鲁克展台，布鲁克ZG区服务主管孙昊博士、ZG区应用科学家仇登利博士分别向江雷院士介绍了Dimension Fastscan的技术细节。

此次会议恰逢ZG抗日战争胜利70周年庆典和阅兵仪式，3日上午，布鲁克公司特意安排，在展会现场直播了阅兵的全过程，让所有参会人员参会的同时，也齐聚布鲁克展台观看了阅兵仪式，为本次展会增添了一抹亮色。

布鲁克公司亚太区应用科学家孙万新博士还受邀做了会议报告，得到非常好的反响。

布鲁克公司会一直致力于纳米表面测量研究，在此感谢所有支持布鲁克公司的老师和同学，我们会更加努力，为科研工作者提供更强劲更极ng确的工具。

【产品介绍】

本次展会上，布鲁克公司主要展示了扫描速度Z快的原子力显微镜Dimension Fastscan，得到了众多科研工作者的肯定和关注。

Dimension FastScan

世界上扫描速度Z快的原子力显微镜
扫描速度的全新诠释，拥有Z高的扫描分辨率，Zyou异的仪器检测性能

Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和zhuo越的仪器性能前提下，Zda限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。