-
公司新闻
-
2020年芯片热点测试技术开放日
发布:仪准科技(北京)有限公司浏览次数:114IC热点测试技术开放日:
2020年1月7号伴随着2020年**场瑞雪,北京集成电路产业园联合各半导体企业,在产业服务平台会议室举办了技术开放日活动。
北京软件产品质量检测检验ZX为参会者做了芯片故障定位技术分享报告,报告从芯片失效分析的内容,进行失效分析的意义,分析服务对象,常见失效现象,分析流程,检测方法等详细的说明与介绍,让参会者对芯片失效分析有了整体的了解,为以后的科研测试提供参考。
北京软件产品质量检测检验ZX的智能产品检测实验室,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务。主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。
2020-01-07 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
认证会员 第 7 年
仪准科技(北京)有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号仪准科技(北京)有限公司
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt9535/