高级材料的生产需要快速、准确和最少的劳动密集型材料参数测定。折射率是光学材料特别是晶体材料应用所需的主要参数之一。本文主要利用分光光度计搭配可多角度自动控制的全能附件,采用两种分光光度法,对不同类型的材料,特别是单晶光学材料的折射率进行了研究。两种方法分别为:布鲁斯特定律方法以及在样品表面接近法线的低角度入射测试反射的方法。通过测试表明,两种方法获得的折射率几乎一致。
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