引言
伟大的希腊哲学家赫拉克利特说过,“人一生中不可能两次踏入同一条河”,对这哲理有很多理解层面,但感叹人生如河流奔腾不息,周遭环境时刻变化是毫无疑义的。
材料科学家在发现差示扫描量热分析仪(DSC)这个材料分析的利器后,也经常遗憾众多材料无法进入同一热流比较性能,因为热流受众多因素印象,也是时刻变化中。嘈杂多变的热流中需要观测材料吸放热带来的微细变化,让科学家非常苦恼,心仪的重要科学发现就变得扑朔迷离,若有若无之间,怎么办才好呢?
市售商品DSC基线(空白样品以真实样品同样条件跑出来的升温曲线)通常在1毫瓦(1000微瓦)以上(下图观测窗口25毫瓦mW),通常会出现如下诡异的DSC基线中的一种或几种现象,让实验结果变得难以识别。妥协的结果,市售DSC只好每次实验先做基线扣除,默认假设同一台仪器的热流每次升温条件相同就是完全一致的。
TA Discovery 系列通过T零技术,融合炉等一系列改进,基线平直度(-50°C 至 300°C)无基线扣除小于等于10微瓦,在下图1毫瓦的观测窗口里,看上去接近科学家们的理想完 美基线。因此TA系列DSC第 一次实现了无需基线扣除,建议用户直接观测样品结果。
但这样就是技术的顶点了吗?
不可能!如下图,随着新一代高新材料出现,或是极少量高分子材料涂敷在惰性基材上,表现出玻璃化等相变热流更细微,对DSC提出了更高要求。即使以TA 传统的DSC也感觉乏力。
这时候,就是X3 DSC横空出世的机会了!在积攒了近60年深研DSC的经验后,TA隆重推出了X3 DSC,受到世界众多顶 级客户的热烈欢迎!美国的苹果,特斯拉;欧洲巴斯夫,汉高;韩国LG, 三星,SKC,日本的三菱,东芝等名企一再采购。
那么X3 DSC是如何通过具体的Discovery DSC 的先进技术让材料科学家们达到更高成就的呢?我们将在下一期强文推荐中做详细介绍,敬请关注!
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