低损耗光学元件的反射率和透射率的确定

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【导读】1）通过腔衰减时间测量，可以非常精确地测量反射率值R>99％，透射率值T>99％的低损耗光学元件。与光谱仪中的测量相比，该方法有三个主要优点：2）适用于非常高的反射率和...

1）通过腔衰减时间测量，可以非常精确地测量反射率值R>99％，透射率值T>99％的低损耗光学元件。与光谱仪中的测量相比，该方法有三个主要优点：

2）适用于非常高的反射率和透射率

3）不可能获得高于实际值的测量值

4）它具有非常高的精度

基本CRD测量设置

Layertec配有各种腔体环形系统，可以稳定地控制光学元件的质量。有关更多详细信息，请参阅我们的目录内容“低损耗光学和腔体衰减时间测量简介”。

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相位优化fs激光宽带镜-CRD测量示例

低损耗镜-CRD测量示例

车镜-宽带CRD测量示例

薄膜偏振器-CRD测量示例

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2004-09-12 09:23:05

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