日置HIOKI阻抗分析仪IM7580A 阻抗分析仪IM7580s： 等效电路分析功能 阻抗分析仪IM7580系列： 使用SMD治具IM9201进行LCR测量 区域判定功能 SPOT判定功能 峰值判定功

品牌：HIOKI
产地：JAPAN
供应商：深圳市银飞电子科技有限公司
日置HIOKI阻抗分析仪IM7580A产品介绍
日置HIOKI阻抗分析仪IM7580A咨询由深圳市银飞电子科技现货日置HIOKI阻抗分析仪IM7580A产品价格、参数规格、型号图片、品牌/商标、Zxin库存等,干体炉银飞电子聚集了全国的现货、产品和各种型号。这里为您供应日置HIOKI阻抗分析仪IM7580A。银飞作为ZG区的产品销售，备了大量的现货，供各位用户选购。以下为详细参数规格等信息。更多详细测试仪资料，可以在百度输入框内输入“1001718”后回车进入银飞查看。该产品由深圳市银飞电子科技有限公司供应，联系人洪先生；地址深圳市福田区华强北群星广场A座2217室。

Z快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小

●测量频率1MHz~300MHz
●测量时间：Z快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
●丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56N・m）。
请注意不要拧过头。

测试治具预计于近期发售。

标配放大镜

高频测量3GHz，对应6尺寸的SMD

3.5mm(公头)-7mm转换

OPEN/SHORT/LOAD的套装

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