阻抗分析仪IM7585 日本日置HIOKI 操作使用基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）

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【导读】阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用选件选件高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：最快0.5ms，测量值偏差0.07%●测量频率：1MHz~1.3GHz●测量时间：...

阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用

选件
选件

高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：Z快0.5ms，测量值偏差0.07%

●测量频率：1MHz~1.3GHz
●测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间）
●测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
●基本精度：±0.65%rdg.
●紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
●丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用

基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）测量模式LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q精度保证范围100mΩ~5kΩ显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ/Rs,Rp,X:±(0.00m~9.99999GΩ)
Ls,Lp:±(0.00000n~9.99999GH)/Q:±(0.00~9999.99)
θ:±(0.000°~999.999°),Cs,Cp:±(0.00000p~9.99999GF)
D:±(0.00000~9.99999),Y:(0.000n~9.99999GS)
G,B:±(0.000n~9.99999GS),Δ%:±(0.000%~999.999%)基本精度Z:±0.65%rdg.θ:±0.38°测量频率1MHz~1.3GHz(设置分辨率100kHz)测量信号电平功率(dbm)模式:-40.0dBm~+1.0dBm
电压(V)模式:4mV~502mVrms
电流(I)模式:0.09mA~20.02mArms输出阻抗50Ω(10MHz时)显示彩色TFT8.4英寸、触屏测量时间Z快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）功能接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿接口EXTI/O(处理器),USB通讯,U盘,LAN
RS-232C(选件),GP-IB(选件)电源AC100~240V,50/60Hz,70VAmax体积和重量主机:215W×200H×348Dmm,8.0kg
测试头:90W×64H×24Dmm,300g附件电源线×1,测试头×1,连接线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯使用说明书)×1

阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用

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2004-09-15 09:23:13

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