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上海长方光学仪器有限公司

薄膜热物性测试仪行业标准

来源:内容来源于网络 浏览量:5541次
【导读】薄膜热物性测试仪型号:HCX09A该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时,同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同,因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下...

薄膜热物性测试仪

型号:HCX09A

该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时,同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同,因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦(或正弦)规律变化时的瞬态实验模型。该仪器采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数,由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下,当温度振荡频率达到一定值后,利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。
主要技术参数:
1.导热系数范围:0.05~20w/mk
2.仪器实现数字化测温,精度优于0.2级。
3.测量结果,准确度±3%
4.计量加热功率可调节±1%。
5.试样尺寸要求:圆片或方片100*100*(0.15)mm.
6.测试温度:室温。
7.配接计算机实现全自动测试分析。
仪器配置:测试主机一台,
测试软件一套,
计算机一套用户自备,



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2005-02-27 09:23:05
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