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上海长方光学仪器有限公司

图像分析——直接测量粒度及粒形

来源:内容来源于网络 浏览量:850次
【导读】自动成像是一种高分辨率的直接颗粒表征技术。从分散的样品中捕捉单个颗粒的图像并进行分析,确定其粒度、粒形及其它物理特性。每次通过测量数万至数十万的颗粒来构建具有代表性和统计式的分布。...

自动成像是一种高分辨率的直接颗粒表征技术。从分散的样品中捕捉单个颗粒的图像并进行分析,确定其粒度、粒形及其它物理特性。每次通过测量数万至数十万的颗粒来构建具有代表性和统计式的分布。 静态成像系统需要静止的分散样品,而在动态成像系统中,样品则流经捕捉图像的光学系统。该技术通常与基于集群的颗粒测定方法结合使用,例如:激光衍射法,可对样品进行深入地了解或对基于集群的测量进行确认。典型应用包括: 单纯的粒径测量无法给出颗粒形状的差异。团聚体、粗大颗粒或污染物颗粒的检测与/或识别。非球形颗粒的粒度测量,例如:针状晶体。对基于集群的粒度测量进行确认,例如:激光衍射法。


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2004-07-30 11:24:50
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