-
-
-
ORTEC 优化平面型GEM-S探测器
- 品牌：美国ORTEC
- 型号： GEM-S
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
-
阿美特克商贸（上海）有限公司
更新时间：2024-04-23 14:34:34 -
企业性质生产商
入驻年限第9年
营业执照已审核
- 同类产品 辐射仪、射线检测仪(11件)
联系方式：销售客服400-822-6768
联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!
-
为您推荐
- ORTEC 优化平面型GEM-S探测器 核心参数
- 详细介绍
- 产品介绍
性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升
采用超薄可靠接触极；在常温下保存不会损害探测器性能
严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等完整指标
以晶体尺寸定义其型号，同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线
优化平面型： GEM-S
型号
晶体尺寸(mm)
能量分辨率-FWHM(≤keV)
峰形(≤)
峰康比（≥）
效率（≥）
端窗直径
(mm)
直径
厚度
@5.9keV
@122keV
@1.33MeV
FW.1M/FWHM
FW.02M/FWHM
GEM-S5020
50
20
0.35
0.65
1.8
1.9
2.6
28
10%
70
GEM-S5825
58
25
0.40
0.68
1.8
1.9
2.7
35
15%
70
GEM-S7025
70
25
0.45
0.70
1.9
2.0
2.8
40
20%
83
GEM-S7030
70
30
0.50
0.72
1.9
2.0
2.8
46
34%
83
GEM-S8530
85
30
0.50
0.72
1.9
2.0
2.9
55
50%
95
GEM-S9030
90
30
0.50
0.75
2.1
2.0
3.0
62
60%
108
GEM-S9430
94
30
0.56
0.78
2.1
2.0
3.0
65
65%
108
- 产品优势
- 性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升
| 仪器分类: | 能谱仪 |
