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ORTEC 优化平面型GEM-S探测器
- 品牌:美国ORTEC
- 型号: GEM-S
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 阿美特克商贸(上海)有限公司 更新时间:2024-04-23 14:34:34
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企业性质生产商
入驻年限第9年
营业执照已审核
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- 产品介绍
性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势;能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升
采用超薄可靠接触极;在常温下保存不会损害探测器性能
严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等完整指标
以晶体尺寸定义其型号,同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸,从而保证了相当一致的效率曲线
优化平面型: GEM-S
型号
晶体尺寸(mm)
能量分辨率-FWHM(≤keV)
峰形(≤)
峰康比(≥)
效率(≥)
端窗直径
(mm)
直径
厚度
@5.9keV
@122keV
@1.33MeV
FW.1M/FWHM
FW.02M/FWHM
GEM-S5020
50
20
0.35
0.65
1.8
1.9
2.6
28
10%
70
GEM-S5825
58
25
0.40
0.68
1.8
1.9
2.7
35
15%
70
GEM-S7025
70
25
0.45
0.70
1.9
2.0
2.8
40
20%
83
GEM-S7030
70
30
0.50
0.72
1.9
2.0
2.8
46
34%
83
GEM-S8530
85
30
0.50
0.72
1.9
2.0
2.9
55
50%
95
GEM-S9030
90
30
0.50
0.75
2.1
2.0
3.0
62
60%
108
GEM-S9430
94
30
0.56
0.78
2.1
2.0
3.0
65
65%
108
- 产品优势
- 性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势;能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升
仪器分类: | 能谱仪 |