德国布鲁克 X射线衍射仪（XRD）D8 ADVANCE

产品介绍：

TWIN / TWIN 光路

布鲁克获得专属发明的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

动态光束优化（DBO）

布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无可替代的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上只有这一个一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有顶点的计数率和更好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能更好的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß和吸收边。同样，也无需用到会除去强度的二级单色器。

布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！

应用实例：

粉末衍射

X射线粉末衍射（XRPD）技术是 重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：

· 鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度

· 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析

· 微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）

· 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力

· 织构（择优取向）分析

· 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修

对分布函数分析

对分布函数（PDF）分析是一种分析技术，它基于Bragg以及漫散射（“总散射”），提供无序材料的结构信息。其中，您可以通过Bragg衍射峰，了解材料的平均晶体结构的信息（即长程有序），通过漫散射，表征其局部结构（即短程有序）。

就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言，D8 ADVANCE和TOPAS软件替代了市面上性能更好的PDF分析解决方案：

· 相鉴定

· 结构测定和精修

· 纳米粒度和形状

薄膜和涂层

薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析（从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：

· 掠入射衍射

· X射线反射法

· 高分辨率X射线衍射

· 倒易空间扫描

技术参数：