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SpecEl椭偏仪-美国海洋光学
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: --
- 产地:美洲 美国
- 供应商报价:面议
- 广州标旗光电科技发展股份有限公司 更新时间:2022-01-07 14:45:43
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销售范围售全国
入驻年限第9年
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详细介绍
OceanOptics光纤光谱仪>>其它>>SpecEl椭偏仪
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。
集成的精确测量系统
SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,并且折射率测量可达0.005%。
SpecEl可通过电话问价。
SpecEl软件及Recipe配置文件
通过SpecEI软件,你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析,所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后,你可以选择不同的recipe来执行你的实验。
SpecEI软件截图显示的Psi及Delta值可以用来计算厚度,折射率及吸光率。
波长范围: 380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选) 光学分辨率: 4.0 nm FWHM 测量精度: 厚度0.1 nm ; 折射率0.005% 入射角: 70° 膜厚: 单透明膜1-5000 nm 光点尺寸: 2 mmx 4 mm (标准) 或200 m x 400 m (可选) 采样时间: 3-15s (最小) 动态记录: 3 seconds 机械公差(height): +/- 1.5 mm, 角度+/- 1.0° 膜层数: 至多32层 参考: 不用