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椭偏仪
- 品牌：
- 型号： SpecEl-2000-VIS
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
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杭州谱镭光电技术有限公司
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企业性质
入驻年限第9年
营业执照
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- 详细介绍
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。
集成的精确测量系统
SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，分辨率0.1nm，测量时间5-15秒，并且折射率测量可达0.005%。
配置说明
波长范围: 380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选) 光学分辨率: 4.0 nm FWHM 测量精度: 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005% 入射角: 70° 膜厚: 单透明膜1-5000 nm 光点尺寸: 2 mm x 4 mm (标准) 或 200 m x 400 m (可选) 采样时间: 3-15s (最小) 动态记录: 3 seconds 机械公差 (height): +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0° 膜层数: 至多32层 参考: 不用
