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光谱椭偏仪
- 品牌:沈阳科晶
- 型号: SE-VM
- 产地:沈阳
- 供应商报价: 面议
- 沈阳科晶自动化设备有限公司 更新时间:2024-04-24 08:15:54
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企业性质生产商
入驻年限第10年
营业执照已审核
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联系方式:吴女士024-23826163
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- 详细介绍
SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。
高精度椭偏测量解决方案;超高精度、快速无损测量;支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制;丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力。
广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。1、采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm)
2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集
3、支持系列配置灵活,可根据不同应用场景支持多功能模块化定制
4、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料