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自动椭圆偏振测厚仪

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详细介绍

仪器简介:

产品特点:
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。
仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。



技术参数:

规格与主要技术指标:
测量范围:1nm-4000nm 折射率范围:1-10
测量最小值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°
度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm
偏振器方位角范围:0°- 180° 外形尺寸:680*390*310mm
测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005
主机重量:26kg
仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在10-100nm时)
光学中心高度:80mm 成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件
成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件(需配计算机)



主要特点:

产品特点:
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。
仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。

技术资料
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