等离子体-材料表面

C-Therm的MTPS传感技术，使得导热系数的测试更加简单，更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。

rident HotDisk 瞬态平面热源法导热仪具有宽泛的测量范围，可对气凝胶等绝热材料，相变材料PCM，液体和粉末，聚合物，各向异性材料，薄膜以及含能材料等进行导热系数测试。仪器操作简单、可靠，测...

除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。

加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。

加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。

C-Therm的Trident热常数分析仪，可在不同温度范围下测量多种材料的导热系数、热扩散系数、比热以及吸热系数。除传统瞬态平面热源法外，同一主机还可搭载先进的改良瞬态平面热源法和耐用的探针法。测量...

薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热...

器简介：ESPion高级朗缪尔探针（AdvancedLangmuirProbesforElectricalPlasmaCharacterisation）可快速、可靠、精确地进行等离子体诊断，是zuix

器简介：EQS是差式泵式二次离子质谱（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用zui*技术

器简介：IMP离子蚀刻探针（IonMil领Probe）,自带差式泵，坚固的二次离子质谱仪，适于分析离子蚀刻过程中的二次离子和中性粒子. 独有的专业终点检测（EndPointDetection）

器简介：HidenEQP是一台结合质量和能量分析的仪器（MassandEnergyAnalyserforPlasmaDiagnostics），用于分析等离子过程中阴、阳离子、中性粒子以及自由基。技术参

术参数：HPR-30真空过程气体分析系统(Process Gas Analyser)，适用于监测分析残余气体和真空工艺过程中的气体组成及变化。应用： CVD / PECVD / RIE / LPC

1.差式泵歧管，通过法兰与过程反应室连接； 2.电子附着选件，具有可调谐的离子源，用于表观电势MS； 3.Penning规和互锁装置可提供过压保护； 4.信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子...

品简介XBS三级滤过四极质谱(MBE Deposition Rate Monitoring / Control System)，适于精确的MBE分析，其他气体分析和科学实验使用。Windows 界面的

整合的离子源，便于RGA和SNMS； 各类型样品的快速转向； 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪。

品简介MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。 功能特点光栅控制，增强深度分析能力 所