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X射线荧光镀层膜厚分析仪FT150 -软件概要-
发布：日立分析仪器（上海）有限公司浏览次数：3193X射线荧光镀层厚度测量仪作为一种可高速简便地对电子零件等的镀层，半导体工艺中的薄膜，以及汽车部件中各类工业产品表皮膜等的膜厚进行管理的仪器而被广泛应用 FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30 m的高强度X射线光束，Z适于测量微小连接器柔性电路板及导线架等微小零件及超薄镀层 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
2016-04-25相关仪器 -
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