X射线荧光分析仪(XRF)

日立 FT230型X射线荧光测厚仪（正比例计数器）包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器，并集成先进且易于使用的功能，旨在增强大批量测试需求。

EA1280 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。

EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体，可快速检测和识别损害锂离子电池（LiB）性能的金属异物。 ...

●灵活校准以适应新的RoHS标准 ●自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果 ●快速测量 ●大样品舱满足各种样品

XRF分析（X射线荧光）具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000，用于各种应用的质量保证和过程控制要求，例如石油、木材处理、矿物、采矿、...

XRF分析（X射线荧光）具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000，用于各种应用的质量保证和过程控制要求，例如石油、木材处理、矿物、采矿、...