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日立分析仪器
主营产品:X射线荧光光谱仪,激光光谱仪,直读光谱仪,镀层测厚仪,热分析仪
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X射线荧光分析仪(XRF)

 
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日立 FT210型X射线荧光测厚仪
  • 品牌: 日立
  • 型号:FT210
  • 产地:日本
  • FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。

台式XRF光谱仪(RoHS)
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA1280
  • 产地:日本
  • EA1280 XRF分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

台式XRF光谱仪(RoHS) | EA1000AIII, EA1400 & EA6000VX
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA1000AIII, EA1400 & EA6000VX
  • 产地:日本
  • ●灵活校准以适应新的RoHS标准 ●自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果 ●快速测量 ●大样品舱满足各种样品

日立    台式 XRF 光谱仪 | Lab-X 和 X-Supreme 系列
  • 品牌: 日立
  • 型号:X-Supreme80000
  • 产地:日本
  • XRF分析(X射线荧光)具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光(EDXRF)光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000,用于各种应用的质量保证和过程控制要求,例如石油、木材处理、矿物、采矿、...

日立   台式 XRF 光谱仪 | Lab-X 和 X-Supreme 系列 Lab-X5000
  • 品牌: 日立
  • 型号: Lab-X5000
  • 产地:日本
  • XRF分析(X射线荧光)具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光(EDXRF)光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000,用于各种应用的质量保证和过程控制要求,例如石油、木材处理、矿物、采矿、...

日立 EA8000A X射线分析仪异物(锂离子电池品控)
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA8000A
  • 产地:日本
  • EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体,可快速检测和识别损害锂离子电池(LiB)性能的金属异物。 ...

X射线异物分析装置 EA8000
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA8000
  • 产地:日本
  • 产品简介EA8000是,与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物,再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析,是指通过将元素分布作为2次元图像而

日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA-Hybrid
  • 产地:日本
  • EA-Hybrid的主要特征】1.  可在几分钟内对250×200mm大小的样品检测出20μm大小的金属异物例如要检测250×200mm(约B5尺寸)大小的电池电极板中20μm大小的金属异物,以往的X

日立EA1000AIII能量色散型X射线荧光分析仪
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA1000AIII
  • 产地:日本
  • 要:通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。与以往仪器相比,环境管制物质的测量时间大幅缩短,材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板……易用性大大提高,分析

日立 EA1000VX X射线荧光分析仪
  • 品牌: 日立
  • 型号:EA1000VX
  • 产地:日本
  • 要:对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号:EA1000VX测量元素:原子序数13(Al)~92(U)样品形态:固体、粉末、液体射线源:X射线管球(Rh靶材) 管电压:

X射线荧光分析仪(XRF)解决方案
X射线荧光分析仪(XRF)技术资料
X射线荧光分析仪(XRF)产品文章
  • XRF如何支持离型膜薄膜上的硅质量控制

    在电子工业中,硅涂层薄膜越来越多地被用作电路板加工过程中作为保护层薄膜的离型膜。对于敏感和复杂的PCB工艺,硅涂层薄膜必须符合公布的规格,如耐温性和离型特性。电子应用薄膜上的硅离型膜的基本性能用于电子...

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