日立 FT230型X射线荧光测厚仪（正比例计数器）
台式XRF光谱仪（RoHS）
日立 EA8000A X射线分析仪异物（锂离子电池品控）
台式XRF光谱仪（RoHS） | EA1000AIII, EA1400 & EA6000VX
日立 台式 XRF 光谱仪 | Lab-X 和 X-Supreme 系列
产品介绍：
EA8000A X射线分析仪异物（锂离子电池品控）
EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体，可快速检测和识别损害锂离子电池（LiB）性能的金属异物。
为什么选择EA8000A X射线分析仪？
快速分析
创新性地协同使用X射线透射成像与先进的X射线荧光光谱，使得EA8000A的扫描速度比其他方法快100倍。例如，仅需30分钟便可在200 x 250mm区域内对尺寸为20µm的金属颗粒进行检测和成分分析。
自动操作
EA8000A可通过X射线投射图像检测金属异物，随后使用XRF技术自动扫描这些区域。
具有检测嵌入式异物的能力
日立采用的成像技术可确保在整个样品体积内检测出金属异物。先进的XRF毛细管光学机构提供高度聚焦和强X射线光束，可分析电极板及有机薄膜表面下的金属异物。
支持大批量生产
EA8000A具有多功能性、高速度和自动化特性，可支持大批量生产。其能快速完成扫描，因此非常适合原材料分析、过程控制和故障分析，确保锂离子电池生产的各方面都符合最 高质量标准。
EA8000A X射线分析仪规格
| EA8000A | |
| 高分辨率硅漂移探测器 | 是 |
| 毛细管XRF光学机构 | 是 |
| 元素范围 | Al - U |
| 操作 | Windows PC |
| XY平台 | 电动自动操作 |
| 样品配置 | 固体、粉末、浆液 |
| 最 大样本量 | 250（宽）x200（深）x50（高）mm |
| 自动数据存储 | 是 |
报价：面议
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NEXTA DSC被用于不同的热分析领域，包括聚合物、制药、电子、化学、学术研究、石油和天然气、食品和金属等，以对热流进行测量从而获得材料特性。其可测量熔点、玻璃化转变和结晶等热性能。
日立 FT230型X射线荧光测厚仪（正比例计数器）包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器，并集成先进且易于使用的功能，旨在增强大批量测试需求。
动态热机械分析仪（DMA）技术提高了测量玻璃化转变、材料硬度以及频率对机械特性影响的灵敏度。它测量材料的粘弹性。DMA分析仪对于应用研究和材料开发领域的产品工程师来说是可靠的，它为简单和复杂材料的机械性能提供精确的测量。
EA1280 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。
我们的DSC（差示扫描量热仪）广泛用于材料表征，如熔点、玻璃化转变、结晶。DSC7000用于众多行业的质量控制和研发中，包括聚合物、制药、化工、石油和天然气、食品和金属。日立的DSC能够提供优秀的灵敏度和基线平坦度，从而提供更精确的试验，并能评价微小的反应。
这是集成于仪器的可选附件，在进行热测量期间，其可被用于观察样品。图像显示样品形状、样本量、颜色及其他属性的变化。可记录图像，并通过时间戳自动链接到热数据。
日立的TMA（热机械分析仪）用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要，我们的TMA分析仪也用于质量保证或出厂检验，以确保客户产品精确地符合规格。日立的多功能TMA还可在一台仪器中执行其他分析任务，如蠕变测量、应力松弛测量、热收缩 - 应力测量、应力 - 应变曲线以及动态热机械分析仪测量。
日立的STA（同步热重分析仪）能在一台装置中同时进行DSC和TGA（热重分析仪）的测量。STA用于通过TGA数据评价热阻、分解温度和组件定量分析，也用于DSC试验、用DSC数据进行比热容试验。我们的Real View试样实时观察系统能够为分析提供独特见解。
营业执照已审核
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