材料表征设备

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面zui顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。...

Semetrol DLTS集成多种自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布，也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位...

RHC020 气氛控制扫描开尔文探针是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测控制温度和湿度变化，附加表面光伏SPV020及表...

表面光电压谱系统为深入研究光敏感材料（例如有机半导体，太阳能电池或者光敏染料）提供一种wan美的一体化解决方案。

薄膜电阻及厚度测试仪采用涡流检测技术，可按照需求配置单个或多个针对不同样品的高敏感探头进行测量，并通过显示模块输出。检测zui终输出结果可显示为薄膜电阻（Ohms/sq），薄膜电导(Mhos/sq），...

UHV-KP020 是超高真空室的一个wan美补充工具，可靠的和可重复的可轻松获得，包括高质量的线性解码器，使得探针和样品的定位变得简单， 无与伦比的跟踪系统在测试过程中始终将探针和样品恒定的分开。对...

单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。