自1929年成立以来，CAMECA不断为国际yi流科研机构提供大型材料分析仪器，并为半导体行业的极ng准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个微量分析技术上开拓进取，精益求精，所提供的设备包括：
• 二次离子质谱仪(SIMS)
• 三维原子探针断层分析术(APT)
• 电子探针微量分析 (EPMA)
• 低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES)

CAMECA的总部邻近法国巴黎，分支机构遍及美国，德国，...