从1929年成立以来，CAMECA即以其精密机械，光学和电子学而闻名。自二十世纪五十年代开创电子探针微分析（EPMA）和二十世纪六十年代二次离子质谱（SIMS）以来，CAMECA一直是这些技术领域无可争议的世界领先者，同时在互补技术领域实现了众多突破性创新，如低能电子诱导X射线发射光谱法（LEXES）和原子探针层析成像法（APT）。