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自1929年成立以来，CAMECA不断为国际yi流科研机构提供大型材料分析仪器，并为半导体行业的极ng准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个微量分析技术上开拓进取，精益求精，所提供的设备包括：• 二次离子质谱仪(SIMS) • 三维原子探针断层分析术(APT) • 电子探针微量分析 (EPMA)• 低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES)CAMECA的总部邻近法国巴黎，分支机构遍及美国，德国......