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工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-S
- 产地：闵行区
应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备，适用于6、8、12吋生产线，产品技术成熟，测量精度高，测量速度快，技术上已达到国际同类竞争产品水品，可实现纳米级厚度测量。 产
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椭偏仪 QUASAR-E100系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-E100
- 产地：闵行区
QUASAR-E100是一款桌面式光谱椭偏膜厚仪，它为客户提供更加准确、稳定的厚度和折射率测量，广泛应用于科研、半导体、液晶、太阳能制造等领域，适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。产品
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反射式膜厚仪 QUASAR-R100系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-R100
- 产地：闵行区
QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器，操作简单，极易上手，应用广泛，快速准确的提供各种薄膜厚度的测量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导
