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半导体缺陷检测 PULSAR系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：PULSAR
- 产地：闵行区
PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等，可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等
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软件系统价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：-
- 产地：闵行区
软件自主设计开发，拥有完全自主知识产权模块化设计，提高效率，方便维护与功能升级简单易用的人机交互界面卓 越的超大数据流采集及实时处理能力多样的结果显示及报表打印完善的系统自我诊断功能 软件
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工业在线膜厚测量设备 QUASAR-S系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-S
- 产地：闵行区
应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备，适用于6、8、12吋生产线，产品技术成熟，测量精度高，测量速度快，技术上已达到国际同类竞争产品水品，可实现纳米级厚度测量。 产
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椭偏仪 QUASAR-E100系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-E100
- 产地：闵行区
QUASAR-E100是一款桌面式光谱椭偏膜厚仪，它为客户提供更加准确、稳定的厚度和折射率测量，广泛应用于科研、半导体、液晶、太阳能制造等领域，适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。产品
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反射式膜厚仪 QUASAR-R100系列价格：面议- 品牌： 上海晶诺微
- 型号：QUASAR-R100
- 产地：闵行区
QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器，操作简单，极易上手，应用广泛，快速准确的提供各种薄膜厚度的测量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导
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上海晶诺微
公司简介(图1)公司简介(图2) 晶诺微(上海)科技有限公司成立于2021年8月，是一家从事于光学检测和测量(Me-trology and Inspection)相关的设计、研发、生产制造以及相关技术服务的设备、仪器生产商，为客户提供定制化的设备及工艺解决方案，有效提升客户的生产效率、提升产品良率并降低生产成本，公司研发团队由光学测量、检测领域具有丰富研发、制造经验的技术人才组成，具备深厚的技术积累以及行业经验。公司聚焦于电子、科研、半导体等相关领域的测量、检测技术，致力于打造先进的仪器设备产品。
