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半导体缺陷检测 PULSAR系列
- 品牌：上海晶诺微
- 型号： PULSAR
- 产地：闵行区
- 供应商报价： 面议
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北京爱蛙科技有限公司
更新时间：2024-03-29 14:37:47 -
企业性质一般经销商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品缺陷检测(1件)
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- 详细介绍
PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等，可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。
产品特点
自主设计开发，拥有完全自主知识产权
定位测量功能及缺陷检测功能
高分辨率
高数据率和高灵敏度图像处理系统
高速并行的图像处理系统
多功能可扩展的应用软件
产品参数
