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Helios DualBeam™扫描电子显微镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Helios DualBeam™
- 产地:其它
采用**电子和离子光学系统、配件和软件,能够为纳米量级研究提供强大的解决方案。 借助极具价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及zui精确的原型设计功能。 Heli...
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Quattro扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Quattro
- 产地:荷兰
1.可在自然状态下对材料进行原位研究:具有环境真空模式(ESEM)的独特高分辨率场发射扫描电镜 2.缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积...
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- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Volumescope 2
- 产地:美国
适用于对样品进行大体积连续切片以及多能量反卷积三维重构的SEM扫描电镜。
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赛默飞世尔 Apreo 2 SEM场发射扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Apreo 2 SEM
- 产地:美国
一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜
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赛默飞世尔 Prisma E环境扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Prisma E
- 产地:美国
具有环境功能的扫描电镜,适用于工业研究和开发。
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赛默飞世尔 Quattro ESEM环境扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Quattro ESEM
- 产地:美国
环境扫描电镜(ESEM),用于研究包括含水样品在内的各种样品。
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- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Verios 5 XHR SEM
- 产地:美国
利用亚纳米分辨率和高材料对比度进行纳米材料表征和分析。
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Axia ChemiSEM扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Axia ChemiSEM
- 产地:美国
重新定义扫描电镜工作流程,让使用体验更加愉悦
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- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Volumescope 2
- 产地:美国
在大体积样品上获得ZG质量三个方向分辨率一致三维数据
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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Axia ChemiSEM
- 产地:美国
新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM,该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上,快速提供所需微观形貌及实时成分信息,帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据,准确执行故障分析和缺...
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Verios XHR SEM价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Verios
- 产地:其它
Verios XHR SEM 优势 •全新的高对比度检测器 - 对敏感的生物样本进行**成像 •电子束减速 - 在极低的电压下提供高分辨率成像和高表面灵敏度 •电子束熄灭装置 - 限...
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- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Aquilos 2 Cryo-FIB
- 产地:美国
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射电镜断层扫描...
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Verios XHR SEM
- 产地:美国
Verios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在JD半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测...
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赛默飞(原FEI)Quattro扫描电镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Quattro
- 产地:美国
Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。
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Prisma E SEM价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Prisma E SEM
- 产地:美国
多用户实验室需要显微镜在短时间内生成具有相关数据的高质量图像。 Prisma E采用基于四极管组件的强大成像系统满足了这一需求,可在各种光束能量和真空条件下提供出色的结果。在所有这些条件下,地形图和成...
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜价格:面议
- 品牌: 赛默飞世尔
- 型号:Apreo
- 产地:美国
Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。
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SEM扫描电镜解决方案
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利用TEM表征微合金化钢中析出相
热轧、热处理钢结构的评估高强度低合金钢(HSLA)被用于汽车、结构和其他应用,因为它们比传统等级的碳钢具有更优越的强度和延展性。APW表征了来自同一钢卷的两个样品的碳化铌沉淀物尺寸和数量密度。钢卷头中...
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工业中的 SEM 和 EDS 分析
随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和...
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锂离子电池的多尺度三维成像方案4P
近年来,随着电动汽车和消费电子产 品的高速发展,市场对电池的需求日 益增长。锂离子电池由于它相比于其 他商用可充电电池技术所具有的高能 量以及高功率密度的性能优势而受到 了极大的关注。为了进一步提高锂...
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增材制造材料表征
对于大长径比样品,传统环形扫描需要多次扫描拼接 完成全样品成像,而螺旋扫描无需拼接即可实现样品 全扫描。 凭借高通量和灵活设置特性,在较短时间内获得高质量图像。 系统可以实现打印制件的高精度...
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利用TEM表征微合金化钢中析出相
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SEM扫描电镜技术资料
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volumescope-2-lifesciences-datasheet-DS0304
volumescope-2-lifesciences-datasheet-DS0304
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Apreo-SEM-Datasheet
Apreo-SEM-Datasheet
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Prisma-E-SEM-Datasheet
Prisma-E-SEM-Datasheet
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Quattro-datasheet
Quattro-datasheet
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volumescope-2-lifesciences-datasheet-DS0304
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SEM扫描电镜产品文章
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电子通道衬度成像(ECCI)原理及在晶体缺陷分析中的应用
晶体是大量结构单元(原子或者分子)在空间规则周期排列形成的,当原子或者分子堆砌出现错误时,便会形成缺陷,按照缺陷引起的畸变的维度大小,可分为点缺陷、线缺陷、面缺陷和体缺陷(位错,层错,晶界等),缺陷的...
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电子通道衬度成像(ECCI)原理及在晶体缺陷分析中的应用